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ページID：99014更新日：2024年2月22日
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超深度顕微鏡システム
製品表面の微小異物観察や破断面の観察を行う質の装置です。
機械加工および表面処理等により製造された加工面、製品上に付着した異物および破断面の観察ができるようになり、製品の品質向上に役立ちます。
【この装置は令和2年度「公益財団法人JKA補助事業（競輪の補助金）」により導入しました。】
機種名
ライカマイクロシステムズ株式会社
DVM6
仕様
| 光源・画像素子 | LED・CMOS |
| 画素数 | 1,000万画素 |
| ズーム比 | 16:1 |
| 補正 | PlanAPO補正 |
| モニター観察 | 12～2,350倍 |
| 傾斜角度 | 左右90° |
| その他機能 | オートフォーカス機能 2D計測・3D計測（長さ・角度・面積等） 3D画像のXY貼り合わせ（XYZ合成） |
設備使用料
1,020円/1時間
依頼試験手数料
1,690円/1件
担当
工業材料科
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