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ページID：111999更新日：2023年12月22日

X線回折装置

X線を試料表面に照射し、得られた回折X線を利用することにより、試料の分子構造・結晶性・配向性等の分析を行う装置です。
検出部は、モノクロメータ・高速高感度検出器・集中法平行法自動切り替え(CBO)があり、分析アプリケーションとして、微小部測定・試料加熱測定・薄膜測定・残留応力測定・極点測定・配向度測定・小角散乱測定が可能です。

【この装置は平成21年度に導入しました。】

機種名

株式会社リガク

UltimaⅣ

仕様

【X線発生部】

最大定格出力	3kW
ターゲット	Cu、Cr

 

【ゴニオメータ部】

スキャンモード	θs/θd連動またはθs,θd単独
ゴニオメータ半径	285mm
2θ測角範囲	-3～162°
最小ステップ角度	0.0001°

 

【検出部】

検出器	シンチレーションカウンタ

 

依頼試験手数料

2,370円/1試料

担当

機械電子技術部

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