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ページID：78543更新日：2026年6月15日

低真空型走査電子顕微鏡

対象とする試料を電子線で走査したときに表面から放出される二次電子を検出器で検出し、その強度を映像として表示し対象物の拡大像を得る装置です。

機種名

日本電子株式会社

JSM-5310LV

仕様

フィラメント	タングステン
最大試料寸法	φ70mm高さ30mm

設備使用料

2,010円／1時間

依頼試験手数料

6,710円／1箇所

担当

甲府技術支援センター
機械・材料技術部（工業材料）